2）有動態(tài)測試需求的，應(yīng)確認電流斜率是否具有可編程的能力，以及斜率控制細度等。

3）對動態(tài)測試要求比較高的，應(yīng)確認*大電流斜率是否滿足測試要求。同一系列產(chǎn)品，*大電流斜率與額定電流成正比，不變的是滿量程電流爬升時間（Min.Rise Time），因此，滿量程電流爬升時間越小，動態(tài)性能越優(yōu)越。在這里，我們告訴大家一個計算公式：*大電流斜率 = 額定電流/ 滿量程電流爬升時間。

4）對測試環(huán)境要求比較惡劣的，應(yīng)當選擇環(huán)路帶寬比較高的負載，一般而言，滿量程電流爬升時間（Min.Rise Time）越小，環(huán)路帶寬越高，惡劣條件下的表現(xiàn)越優(yōu)越（電源輸入抑制比更高），可靠性也就越高（失調(diào)沖擊持續(xù)時間更短）。

5、對智能應(yīng)用及自動化測試要求比較高的用戶，應(yīng)當選擇較高采樣率的負載，高采樣率才能保證輸入信號的還原、保證伺服應(yīng)用的精準、為智能應(yīng)用的擴展提供條件。

6、對生產(chǎn)線應(yīng)用而言，應(yīng)優(yōu)先考慮自動測試功能的系統(tǒng)性與便捷性，盡量避免小視角的LCD顯示屏，這樣便于生產(chǎn)線上的操作員工讀取數(shù)據(jù)。