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半導體元件自動化測試系統(tǒng)

]資料

產(chǎn)品名稱: 半導體元件自動化測試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號: IST 8900
產(chǎn)品展商: 艾仕歐
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

IST 8900半導體元件自動化測試系統(tǒng)真正一臺完整而具有**“性價比”的半導體元件自動化測試系統(tǒng)，能測試從毫瓦(mW)到千瓦(kW)級全功率系統(tǒng)的多種半導體元件！

半導體元件自動化測試系統(tǒng)

的詳細介紹

 

 

泄漏電流測量檔位 Leakage Current Measurement Range
測試參數(shù) Parameter	電流檔位 Current Range		分辨率 Resolution			精度 Accuracy		測量條件 Test Condition
Iceo/s/v、Icbo、 Iebo、Idss/v、 Igsr/f、Idrm、 Irrm、Igko、 Igss、Ir、 Ic(off)	0 - 400 nA		0.1 nA			± 3%		0 - 2.5 KV
	0 - 4 μA		1 nA			± 1%		0 - 2.5 KV
	0 - 40 μA		10 nA			± 1%		0 - 2.5 KV
	0 - 400 μA		0.1 nA			± 1%		0 - 2.5 KV
	0 - 4 mA		1 μA			± 1%		0 - 2.5 KV
	0 - 40 mA		10 μA			± 1%		0 - 2.0 KV
	0 - 400 mA		0.1 mA			± 1%		0 - 1 KV
崩潰電壓檔位 Breakdown  Voltage  Range
測試參數(shù) Parameter	電壓文件位 Voltage Range			分辨率 Resolution			精度 Accuracy			測量條件 Test Condition
BVceo/s/v、BVcbo、Vebo、BVdss、BVr、BVdrm、BVrrm、BVgss、BVz	0 - 30 V			0.05 V			± 1%			0 - 5 A
	30 - 60 V			0.05 V			± 1%			0 - 2 A
	60 - 2500 V			0.3 V			± 2%			0 - 40 mA
導通電流測量檔位  On-State Current Range
測試參數(shù) Parameter	電流檔位 Current Range	分辨率 Resolution			精度 Accuracy				測量條件 Test Condition
hFE、Vce(sat)、Vbe(on)、Vbe(sat)、Vds(on)、 Ids、Vds、Rds(on)、Ic(on)、Vf、If、Vtm、± Vo、± Ipk、± Isc、Vbo、Ibo	0 - 20 mA	5 μA			±13%				0 - 40 V
	0 - 200 mA	50 μA			± 1%				0 - 40 V
	0 -2 A	0.5 mA			± 1%				0 - 40 V
	0 - 25 A	6 mA			± 1%				0 - 30 V
	0-50 A	12mA			± 1%				0 - 20 V
觸發(fā)電流檔位  Trigger  Current Range
測試參數(shù) Parameter	電流檔位 Current Range	分辨率 Resolution				精度 Accuracy			測量條件 Test Condition
hFE、Vgs(th)、Vbe(on)、Vgs(on)、Vge(th)、Vge(on)、Igt、Vgt、IL、Ih、Ic(on)、Igt 1/2/3/4、Vgt 1/2/3/4	0 - 100 μA	20 nA				±1%			0 - 20 V
	0 - 1 mA	0.2 μA				± 1%			0 - 20 V
	0 -10 mA	2 μA				± 1%			0 - 20 V
	0 - 100 mA	20 μA				± 1%			0 - 20 V
	0 - 1 A	0.2 mA				± 1%			0 - 20 V
	0 - 20 A	4 mA				± 1%			0 - 20 V

 
 

觸發(fā)電壓文件位Trigger Voltage Range
測試參數(shù) Parameter		電壓文件位 Voltage Range		分辨率 Resolution		精度 Accuracy
Vbe(on),Vbe(sat),Vge(on), Vgs(on),  Vgt		0 - 20 V		4 mV		± 1%
開關(guān)時間  Switching Time
測試參數(shù) Parameter	電壓文件位 Voltage Range		分辨率 Resolution		精度 Accuracy
ton、toff	0 - 1095 ns 連續(xù)調(diào)整		5 ns		± 1%

 

機身規(guī)格
儀器	體積  高x深X寬	重量
主機	11.43cm x43.69cm x41.91cm	7.7 kg
M2400A	31.75cm x44.45cm x53.34cm	75 kg
M4800A	49.53cm x44.45cm x53.34cm	120 kg
10kV電壓模塊	12.7cm x 27.94cm x30.48cm	5.5 kg

標準配件：
● AC電源線
● 操作手冊
● 二極管軸心引腳測試治具
● 測試治具，適用于TO-220、202、237、218、92
● 測試治具，適用于TO-247、247 super
● 測試治具，適用于SMD封裝
選購配件：
● 通用測試夾治具(短測試線)
● 通用測試夾治具(長測試線)
● 測試插座轉(zhuǎn)接器，適用于單/雙光耦合裝置
● 測試治具，適用于TO-3、66、204
● DB-25公頭/公頭接口控制導線，適用于連接外部模
塊機箱
● 超彈性硅膠大功率測試線
● 夾式測試治具，適用于150mm直徑圓盤封裝
IST 8900半導體元件自動化測試系統(tǒng)真正一臺完整而具有**“性價比”的半導體元件自動化測試系統(tǒng)，能測試從毫瓦(mW)到千瓦(kW)級全功率系統(tǒng)的多種半導體元件！

特點：
☆ 可檢測12種半導體元件的參數(shù)多達135個；
☆ 可單機獨立操作，測試范圍達2500V及50A；
☆ 具有自我校正及自我測試診斷之功能；
☆ 外接大電流機箱或高壓裝置，檢測范圍可擴展至4800A及10KV；
☆ 具有USB接口，可外接PC、打印機、數(shù)據(jù)記錄器；
☆ 測試程序可儲存及重復使用；
☆ 錯誤或損壞的元件，在未進入?yún)?shù)測試前，便可被自動篩除；
☆ 提供全自動好/壞判別或參數(shù)上的測量；
☆ 提供Windows PC Curve Tracer特性曲線軟件（選購）；
☆ 具有機械手接口，可供大量生產(chǎn)測試；
☆ 任何管腳錯誤的連接，均可在啟動時，**快速地檢測到，且自動停止測試動作；
☆ 測試程序的產(chǎn)生，采用填充式的引導方式；
☆ 測試光耦輸出端為三極管或交直流可控硅的元件；
☆80μs~300μs脈沖測試間隔，可防止元件過熱造成的數(shù)據(jù)漂移或損毀。
☆ 采用自動校準軟件技術(shù)，可排除連接插件接觸面、電路板上的線路或繼電器接點上細微的壓降問題，以避免使用昂貴而麻煩的KELVIN插座，保證MOSFET的Rds(on)精度可達±1mΩ (±0.001Ω)。

元件類型	漏電流	崩潰電壓	導通參數(shù)	放大倍率	觸發(fā)參數(shù)	閂扣參數(shù)	保持參數(shù)	開關(guān)參數(shù)
Bipolar  Transistor	Iceo、Ices、Icev、Icbo、Iebo	BVceo、BVces  BVcev、BVcbo  BVebo	Vce(sat)  Vbe(sat)	hFE	Vbe(on)			ton  toff
MOSFET  Transistor	Idss、Igsr、Igsf、Idsv	BVdss	Vds(on)、Ids(on)  Rds(on)、Vsd	gFS	Vgs(th)  Vgs(on)			ton  toff
IGBT	Ices、Igsr、Igsf	BVces	Vce(sat)、  Ic(on)、Vf	gFS	Vge(th)  Vge(on)			ton  toff
TRIAC	Idrm、Irrm	BVrrm、BVdrm	Vtm+、Vtm-		Iga 1/2/3/4  Vga 1/2/3/4		Ih+、Ih-
SCR	Idrm、Irrm、Igko	BVdrm、BVrrm  BVgko	Vtm		Igt、Vgt	IL	Ih
GTO	Idrm、Irrm、Igrm		Vtm		Igt、Vgt	IL	Ih
DIODE	Ir	BVr	Vf、If
Zener Diode	Ir	BVz、BVr	Vf
J-FET	Igss	BVgss	Idss、Rds(on)  Vds(on)	gFS		Vgs(p)	Id(p)
Regulator			+/-Vo、+/-Ipk  +/-Isc			+/-dV	+/-0r、+/-Ir
Optoisolator	Irrm、Ir、Iceo  Icbo、Iebo  Ic(off)、Idrm	BVceo、BVcbo  BVebo	Vf、Ic(on)、  Vce(sat)、Vtm	CTR、hFE	Igt		Ih
VTS	Ir	BVr	Vbo、bo、dVbo

大功率半導體元件的測試
當功率模塊老化時，其工作效能必定降低，一個應用在大功率開關(guān)上的功率元件，在其使用期限內(nèi)，如能定期維護測
試，可確保其使用的*佳狀態(tài)，防止故障發(fā)生。
IST 8900半導體元件全自動測試系統(tǒng)，可以仿真元件在真正工作狀態(tài)下的電流及電壓，并測量重要參數(shù)的數(shù)據(jù)，再與
原出廠指標比較，由此來判定元件的好壞或退化的百分比。
導通參數(shù)測試如：Vce(sat)、Vds(on)、Rds(on)、Vf及Vtm等，可由選購外部電流模塊M2400與M4800，將IST 8900的大功率測試電流擴大至數(shù)千安培。
每個電流模塊，都具有獨立的供電系統(tǒng)，以便在測試時，提供內(nèi)部電路及電池組充電之用；IST 8900可通過一個DB-25接口，連續(xù)控制電流量0~2400A或0~4800A。
可選購外部高壓模塊，執(zhí)行關(guān)閉狀態(tài)參數(shù)測試如：各項崩潰電壓與漏電流測量達10KV。
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